Карта сайта
- АО ТЕСТПРИБОР
- О компании (2)
- Услуги (26)
- Разработка и поставка корпусов (4)
- Комплексные поставки ЭКБ
- Испытания ЭКБ и РЭА (7)
- Испытания РЭА на ЭМС (8)
- Измерение уровней создаваемых индустриальных радиопомех
- Испытания на устойчивость к колебаниям напряжения в цепях электропитания
- Испытания на устойчивость к воздействию электростатических разрядов
- Испытания на восприимчивость продукции к кондуктивным помехам
- Испытания на устойчивость к воздействию электромагнитных полей в диапазоне частот до 18 ГГЦ
- Испытания на устойчивость к воздействию магнитных полей
- Испытания на устойчивость к воздействию переходных процессов, вызванных молниевыми разрядами
- Испытания на устойчивость к воздействию электромагнитных полей высокой интенсивности
- Поставка оборудования и приборов (2)
- Продукция (242)
- Корпуса для интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (203)
- Корпуса типа СQFP и CFP (62)
- 4119.28-18
- 4112.16-30
- 4119.28-19
- 4119.28-17
- 4153.20-7
- 4153.42-11
- 4001.2-2 К
- 4106.16-6 К
- 4117.6-5 К
- 4117.8-3 К
- 4190.4-2 К
- 4224.64-2
- 4112.8-4
- 4112.16-29
- 4112.16-29.01
- 4153.20-8
- 4153.20-8.01
- 4216.24-3
- 4142.48-1
- 4203.64-3 К
- 4235.88-2 К
- 4238.108-2
- 4238.108-3
- 4238.108-4
- 4245.240-5
- 4245.240-6.01
- 4245.240-6
- 4244.256-3
- МК 4112.16-28
- МК 4116.4-4
- МК 4145.24-1
- МК 4217.44-1
- МК 4159.48-1
- МК 4165.64-1
- МК 4164.64-1
- МК 4239.68-1
- МК 4239.68-2
- МК 4150.72-А
- МК 4247.100-1
- МК 4247.100-3
- МК 4247.100-2
- МК 4233.112-А
- МК 4255.120-1
- МК 4156.132-В
- МК 4156.132-А К
- МК 4229.132-4
- МК 4248.144-1
- МК 4248.144-2
- МК 4249.176-1
- МК 4249.176-2
- МК 4248.144-3
- МК 4247.144-2
- МК 4250.208-1
- МК 4250.208-2
- МК 4250.208-3
- МК 4245.240-7
- МК 4245.240-10
- МК 4244.256-6
- МК 4244.256-4
- МК 4251.304-2
- МК 4254.352-1
- МК 4254.352-2
- Корпуса типа PGA (3)
- Корпуса типа СLCC и DLCC (39)
- 5117.16-2
- 5213.8-2
- 5205.8-В К
- 5205.8-С К
- 5220.3-5 К
- 5221.6-3
- 5190.22-1НЗ К
- 5106.44-D
- 5142.48-А
- 5142.48-В
- 5133.48-5 К
- 5178.52-3
- МК 5204.4-3НЗ
- МК 5204.4-4НЗ
- МК 5233.4-1НЗ
- МК 5234.4-1НЗ
- МК 5234.6-1НЗ
- МК 5235.4-АНЗ
- МК 5209.4-СНЗ
- МК 5214.6-ВНЗ
- МК 5204.4-4.01НЗ
- МК 5210.6-ВНЗ
- МК 5214.6-АНЗ
- МК 5179.10-А
- МК 5119.16-А
- МК 5121.20-А
- МК 5223.20-А
- МК 5161.24-А
- МК 5123.28-1
- МК 5123.28-1.01
- МК 5125.40-1
- МК 5126.56-1
- МК 5157.64-1
- МК 5163.64-3
- МК 5222.8-А
- МК 5209.4-ВНЗ
- Основание ОМК52.8-1НЗ
- Корпус 5 × 5
- Корпус 6 × 6
- Корпуса типа BGA (2)
- Корпуса типа C-DIP (4)
- Металлостеклянные корпуса (2)
- Корпуса специального назначения (7)
- Корпуса типа КТ выводные (43)
- КТ-108-2 К
- МК КТ-28В-1 / МК КТ-28В-2
- МК КТ-43G-1 / МК КТ-43G-2
- МК КТ-98А-1 / МК КТ-98А-2
- МК КТ-99С-2 / МК КТ-99С-3
- МК КТ-105-3 / МК КТ-105-4
- МК КТ-99С-4 / МК КТ-99С-5
- МК КТ-97А-4-1
- МК КТ-97А-4-2
- МК КТ-97А-4-1Н
- МК КТ-97А-4-2Н
- МК КТ-97В-22
- МК КТ-97В-22.01
- МК КТ-97В-22Н
- МК КТ-97В-22.01Н
- МК КТ-97А-5
- МК КТ-97А-5.01
- МК КТ-97А-5Н
- МК КТ-97А-5.01Н
- МК КТ-97L-1
- МК КТ-97L-1.01
- МК КТ-97L-1H
- МК КТ-97L-1.01H
- МК КТ-117-1
- МК КТ-117-1.01
- МК КТ-117-1Н
- МК КТ-117-1.01Н
- МК КТ-110А-А
- МК КТ-110А-В
- МК КТ-110А-АН
- МК КТ-110А-ВН
- МК КТ-105А-А
- МК КТ-105А-В
- МК КТ-105А-АН
- МК КТ-105А-ВН
- МК КТ-105В-А
- МК КТ-105В-В
- МК КТ-105В-АН
- МК КТ-105В-ВН
- МК КТ-116-1
- МК КТ-116-1.01
- МК КТ-116-1Н
- МК КТ-116-1.01Н
- Корпуса типа КТ безвыводные (12)
- Корпуса для СВЧ-транзисторов (9)
- Корпуса для ИВЭП (9)
- Корпуса типа СQFP и CFP (62)
- Изделия из керамики (2)
- Контактирующие устройства и спутники-носители (6)
- КУ для корпусов 4217.44-1, 4239.68-1, 4247.100-1, 4248.144-1, 4249.176-1
- КУ для корпусов 4233.112-А, 4244.256-3, 4244.256-4, 4251.304-2, 4254.352-2
- КУ для корпусов 4250.208-1, 4250.208-2, 4250.208-3, 4245.240-5, 4245.240-6, 4245.240-6.01, 4245.240-7
- КУ для корпусов 5119.16-А, 5121.20-А, 5123.28-1, 5125.28-1.01
- КУ для корпуса 5157.64-1
- КУ для корпусов 5142.48-А, 5142.48-В
- Соединители (6)
- Электронная компонентная база (ЭКБ) (15)
- Интегральные микросхемы (ИМС)
- Конденсаторы (10)
- Танталово-полимерные конденсаторы CAK55, GCA55
- Твердотельные танталовые конденсаторы CAK45, CAK45A, GCA45
- Высокотемпературные многослойные керамические конденсаторы CC41H, CT41H
- СВЧ многослойные керамические конденсаторы CC41F
- Общие многослойные керамические конденсаторы CC41, CT41
- Высокодобротные многослойные керамические конденсаторы CC41Q
- Высокопрочные многослойные керамические конденсаторыCC41R, CT41R
- Высокопрочные высоковольтные многослойные керамические конденсаторы CC41RV, CT41RV
- Высоковольтные многослойные керамические конденсаторы CC41V, CT41V
- Выводные многослойные керамические конденсаторы CC4, CT4
- Полупроводниковые приборы (1)
- Модульные источники питания (МИП)
- Оборудование и материалы (2)
- Корпуса для интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (203)
- Новости (13)
- Новости (4)
- Статьи (5)
- Проблемы использования реверберационной камеры при испытаниях на восприимчивость к радиочастотному электромагнитному полю
- Ослабление потоков электронов радиационных поясов земли защитными экранами на основе композита W-CU
- Производство печатных плат из многослойной керамики
- Проблемы электромагнитной совместимости технических средств в вопросах защиты информации
- Экранированные и безэховые камеры как альтернативные измерительные площадки и средства защиты информации
- Конференции
- Медиа-центр
- Карта сайта
- Пользовательское соглашение
- Контакты
- Политика конфиденциальности
- Поиск по сайту