Карта сайта
- АО ТЕСТПРИБОР
- О компании (3)
- Направления (23)
- Разработка и производство (4)
- Комплексные поставки ЭКБ
- Испытания ЭКБ И РЭА (7)
- Испытания на ЭМС (8)
- Определение уровня электромагнитных помех (помехоэмиссии)
- Испытания на устойчивость к изменениям в системе электропитания
- Испытания на устойчивость к воздействию электростатических разрядов
- Испытания на восприимчивость продукции к кондуктивным помехам
- Испытания на устойчивость к воздействию электромагнитных полей в диапазоне частот до 40 ГГц
- Испытания на устойчивость к воздействию магнитных полей
- Испытания на устойчивость к воздействию переходных процессов, вызванных молниевыми разрядами
- Испытания на устойчивость к воздействию электромагнитных полей высокой интенсивности
- Продукция (37)
- Корпуса для интегральных микросхем (6)
- Корпуса для полупроводниковых приборов (3)
- Корпуса для свч транзисторов (1)
- Корпуса специального назначения (1)
- Графитовая технологическая оснастка (1)
- Керамические изоляторы (1)
- Керамические подложки (1)
- Металлизированные керамические платы (1)
- Печатные платы (2)
- Специализированные поверхностно-объемные экраны (1)
- Контактирующие устройства и спутники-носители (6)
- КУ для корпусов 4217.44-1, 4239.68-1, 4247.100-1, 4248.144-1, 4249.176-1
- КУ для корпусов 4233.112-А, 4244.256-3, 4244.256-4, 4251.304-2, 4254.352-2
- КУ для корпусов 4250.208-1, 4250.208-2, 4250.208-3, 4245.240-5, 4245.240-6, 4245.240-6.01, 4245.240-7
- КУ для корпусов 5119.16-А, 5121.20-А, 5123.28-1, 5125.28-1.01
- КУ для корпуса 5157.64-1
- КУ для корпусов 5142.48-А, 5142.48-В
- Оборудование (1)
- Пресс-центр (32)
- Новости (17)
- Испытания на воздействие полей высокой интенсивности
- Итоги конференции «ЭМС-2022»
- АО «ТЕСТПРИБОР» − партнёр Российского форума «Микроэлектроника 2022»
- Итоги конференции «ЭКБ-2022»
- Выставка «Фотоника. Мир лазеров и оптики»
- Открыта регистрация на Конференцию «ЭМС-2022»
- Х юбилейная всероссийская научно-техническая конференция «ЭКБ-2021» состоялась!
- Открыта регистрация на конференцию «ЭКБ-2021»
- Открыта регистрация на конференцию «ЭКБ-2022»
- Юбилейная научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость 2021» успешно завершила свою работу!
- АО «ТЕСТПРИБОР» приглашает на выставку ExpoElectronica
- Участие АО «ТЕСТПРИБОР» в выставке "ExpoElectronica 2019"
- Вопросы обеспечения предприятий промышленности качественной ЭКБ обсудили участники IX всероссийской научно-технической конференции «ЭКБ-2020»
- Расширение линейки корпусов для мощных дискретных полупроводниковых приборов компании «ТЕСТПРИБОР»
- Участие АО «ТЕСТПРИБОР» в выставке Testing & Control 2019
- Новые волноводные фильтры TPFW от АО «ТЕСТПРИБОР»
- Новые материалы для экранирования СВЧ - устройств и компонентов
- Статьи (5)
- Проблемы использования реверберационной камеры при испытаниях на восприимчивость к радиочастотному электромагнитному полю
- Ослабление потоков электронов радиационных поясов земли защитными экранами на основе композита W-CU
- Производство печатных плат из многослойной керамики
- Проблемы электромагнитной совместимости технических средств в вопросах защиты информации
- Экранированные и безэховые камеры как альтернативные измерительные площадки и средства защиты информации
- Конференции (6)
- Медиа-центр
- Новости (17)
- Карта сайта
- Пользовательское соглашение
- Контакты
- Политика конфиденциальности
- Поиск по сайту